(Arrow Electronics)宣布，现已面向全球客户通过 Digital Test Drive 平台提供半导体（NXP® Semiconductors）Ara240 离散神经处理单元（DNPU）的远程评测服务。借助该平台，工程师无需购置硬件即可提前体验和评估先进与技术，包括计算机视觉、生成式 AI 及多模态系统，从而验证性能表现，并加速产品设计与开发进程。

　　随着人工智能在工业、机器人及智能视觉等领域的快速发展，开发人员正越来越多地将复杂的 AI 工作负载部署到更靠近数据源的边缘端。在边缘侧本地运行 AI，不仅能够降低系统延迟、增强数据隐私与安全性，还可减少对云端算力的依赖，尤其适用于对实时性要求较高的应用场景。

　　为满足上述需求，恩智浦Ara240 DNPU 可提供高达 40 eTOPS（等效每秒万亿次运算）的 AI 算力，支持大语言模型（LLM）、视觉语言模型（VLM）、Transformer 以及卷积神经网络（CNN）等多种先进 AI 工作负载。该器件支持最高 16GB LPDDR4 内存，使开发人员能够直接在边缘设备和嵌入式系统上运行规模更大、复杂度更高的 AI 模型，而无需依赖云端计算资源。

　　为了帮助客户实现这些功能，艾睿电子已通过其 Digital Test Drive 平台提供恩智浦Ara240 解决方案。艾睿电子的 Digital Test Drive 是一项基于云的远程硬件测试与开发服务，工程师无需实际配置，即可通过网络评估嵌入式硬件。

　　工程师可远程访问基于恩智浦 NXP i.MX 应用处理器与 Ara240 DNPU 构建的实际运行系统，直接评估计算机视觉、大语言模型（LLM）推理以及视觉语言 AI 等真实场景下的应用表现，而无需仅依赖产品规格或基准测试数据。通过这种方式，工程师能够在投入硬件采购或确定系统架构方案之前，更全面地了解平台的实际性能及其对具体项目的适用性，从而降低开发风险、优化设计决策，并加速产品开发进程。

　　恩智浦安全互联边缘产品高级总监Justin Mortimer表示：“开发者需要切实可行的方法来了解先进 AI 技术在实际应用中的表现。通过 Digital Test Drive 提供恩智浦 Ara240 DNPU 的访问权限，艾睿电子使工程团队能够更快地评估真实的边缘 AI 性能，并做出明智的设计决策。”

　　艾睿电子全球半导体供应商管理副总裁 Shelby Schnurrenberger 表示：“艾睿电子旨在消除创新想法与实际部署之间的障碍，为客户的 AI 之旅助力。我们将恩智浦 Ara240 AI 加速器集成到我们的 Digital Test Drive 平台中，使工程师能够即时评估高级边缘 AI 工作负载，在购置硬件之前获得实际操作经验。通过与恩智浦合作，我们帮助客户加速从概念到生产的流程，并在智能边缘应用中解锁新机遇。Digital Test Drive 拓展了恩智浦 AI 产品组合的全球访问权限，工程师在全球各地都能验证性能、探索用例并缩短开发周期。此次合作进一步强化了边缘 AI 在工业、机器人、机器视觉及新兴智能系统等领域的可用性、可扩展性及实用性。”

　　恩智浦 Ara240 评估环境现可通过 Digital Test Drive 访问。Digital Test Drive 简化了早期测试流程，有助于消除开发套件供应不足、运输延迟、配置复杂及软件安装问题等常见障碍。